Specyfikacja techniczna

Maksymalny obszar pomiarowy: 220 x 600 mm

Maksymalna ilość kostek na arkuszu pomiarowym: 3000

Grubość mediów: maks. 20 mm

Aperura pomiarowa:
– R – 8, 6, 2 mm
– T – 8, 6, 2 mm

Prędkośc skanowania: około 10 min. dla 1248 pól

Najmniejszy krok skanowania: 0,2 mm

Geometria:
– R – 45°/0°
– T – d/0°

Kalibracja: automatyczna do wbudowanej bieli

Iluminant: type A

Czas pomiaru pojedyńczego pola: < 0,3 sekundy

Powtarzalność: < 0,2 ΔE94 na bieli lub ± 0,005D (maks. do 1.000 D)

Zgodność pomiędzy urządzeniami: typ 1 ΔE94

Czujnik pomiarowy: siatka dyfrakcyjna z tablicą diód

Rozdzielczość spektralna: 3, 5 nm

Zakres spektralny: 380 … 780 nm

Zmierzalny zakres gęstości: 0…2.5 D

Interfejs: USB dla Mac, PC i Linux, RS232

Wymiary: 571 x 433 x 160 mm

Waga: 11 kg

Wymagany system: Microsoft Windows 2000 lub późniejszy, Mac OS X 10.4 lub późniejszy

Zawiera oprogramowanie: Profile-Xpert Gateway dla Mac i PC